電感測(cè)試儀相關(guān)介紹：
1J3255BL 頻率范圍 20Hz - 200kHz
1J3255B 頻率范圍 20Hz - 500kHz 1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz
0.1%基本精度（英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)） DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)
四線式測(cè)試，可**測(cè)量極低的Rdc、Rs、L和精準(zhǔn)Q
可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias 多頻率自動(dòng)測(cè)試模式 多點(diǎn)DC Bias掃頻功能 涵蓋各式測(cè)量參數(shù)：Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 人性化直覺(jué)式操作介面,簡(jiǎn)單易懂 測(cè)試結(jié)果列印 可透過(guò)IEEE488連線控制
測(cè)試夾具選擇
1J1020
1J1022
1J1011
介電常數(shù)測(cè)試治具
（40MHz）
液體介電常數(shù)測(cè)試治具
（30MHz）
二線制DIP測(cè)試治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二線制SMD測(cè)試治具（彈片型）
二線制SMD測(cè)試治具（探針型）
四線制DIP 測(cè)試治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四線制SMD測(cè)試治具
二線制DIP高電流測(cè)試治具
（125A）
（3MHz）
四線制DIP高電流測(cè)試治具
1J1016
1J10164
1J1023
二線制SMD高電流測(cè)試治具
四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭
1J1025
1J1032
1J10324
探針式測(cè)量治具
二線制SMD底部電極測(cè)試夾具
四線制SMD底部電極測(cè)試夾具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
電容充放電保護(hù)單元
高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置電流夾具適配器
四轉(zhuǎn)一測(cè)試夾具
四轉(zhuǎn)二測(cè)試夾具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四線式DIP測(cè)試治具
(1MHz)
四線式測(cè)試夾具
(3MHz)
兩線式探針型高頻測(cè)試線
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
兩線式探針型高頻測(cè)試線SMD
精密型測(cè)試夾具
SMD鑷子式高精密測(cè)試夾具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
鑷子式高精密測(cè)試夾具
（尖型）
（大型）
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